產(chǎn)品介紹

此系統(tǒng)與手套箱無縫整合，為分析敏感材料和組件提供了理想的環(huán)境。

PD-QE 結(jié)合優(yōu)良科技與使用者友善的設(shè)計，讓研究人員和工程師能夠探索光譜學(xué)的新領(lǐng)域，并釋放光電探測器的全部潛力。

光電探測器基本特性分析設(shè)備的可用性對于這些組件的開發(fā)者和用戶都至關(guān)重要。

　不同的應(yīng)用領(lǐng)域，例如光電二極管制造商、光纖通訊系統(tǒng)開發(fā)商、太陽能電池板制造商、大學(xué)和研究機構(gòu)的實驗室以及質(zhì)量控管公司，在功能方面可能有其他特定需求，包括所需的檢測范圍、分辨率或?qū)μ囟ōh(huán)境條件的適應(yīng)性。

傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器的測試中面臨許多挑戰(zhàn)。 例如：

　　1.偏置電壓無法超過12V：傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器，其承受直流電壓無法過大，因此在一般的量子效率測試儀，電偏壓無法施加超過12V。

　　2.無法做噪聲頻率分析。

　　3.無法直接測得NEP與D*。

光焱科技針對新世代的光電探測器（PD）提供了完整解決方案，命名為PD-QE。

特色

1.高精度測量：

　PD-QE提供高精度的EQE和IV曲線測量，光源不穩(wěn)定度低于1%，確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性，滿足客戶對高精度測量的期望。

2.集成多功能性：

　PD-QE 集成了多種功能，包括 EQE 測試、IV 曲線檢測、D* 分析、NEP 分析和頻率噪聲頻譜分析。 這種整合為客戶提供了一站式性能評估解決方案，滿足他們對整合多功能性的期望。

3.靈敏度測試：

　PD-QE 能夠測量高分辨率的光電流（分辨率高達(dá) 10^-14 安培），使其適用于測試高靈敏度的光電探測器。 這有助于客戶準(zhǔn)確評估探測器在低光照條件下的性能，滿足他們對靈敏度測試的期望。

4.寬波長范圍：

　PD-QE 適用于各種光電探測器，無論是在研發(fā)階段還是生產(chǎn)線上，都能提供先進(jìn)的性能測試能力。

5.優(yōu)異的光束控制技術(shù)：

　PD-QE 通過其光束耦合模塊提供精確的光束尺寸控制 （1*1 平方毫米），滿足精確光束控制的要求。 這讓客戶能夠進(jìn)行精確的性能測試，并模擬特定的應(yīng)用情境。 這滿足了客戶對精確光束控制的需求，幫助他們執(zhí)行更準(zhǔn)確的效能評估和優(yōu)化。

6.寬廣的偏壓電壓范圍：

　PD-QE支持從20伏特到200伏特的偏壓電壓調(diào)整，滿足客戶在不同電壓條件下測試光電探測器的需求。 這有助于客戶全面評估產(chǎn)品效能，并確保在各種應(yīng)用條件下穩(wěn)定運作。

7.易于操作和維護：

　PD-QE 采用用戶友善的設(shè)計，操作簡單，維護成本低，滿足客戶對易用性和維護性的需求。 這有助于客戶節(jié)省時間和成本，同時保持高效的測試流程。

8.客戶支持和技術(shù)服務(wù)：

　PD-QE 提供專業(yè)的客戶支持和技術(shù)服務(wù)，協(xié)助客戶快速解決使用過程中遇到的問題，確保設(shè)備穩(wěn)定運作。 這滿足了客戶對及時有效支持的需求，幫助他們維持高效的測試流程。

規(guī)格

　● 光源不穩(wěn)定性< 1%

　● 單色光模：波長范圍 300~1100 nm。

　● 光斑耦合模組光斑尺寸：1*1mm2 。

　● 偏置電壓也可由20V到200V。

　● 可測量高分辨率的光電流，分辨率最高可達(dá)10~14 A。

　● 波長擴充可達(dá)1800 nm。

應(yīng)用

PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析可用于：

　● 第三代半導(dǎo)體材料：光電二極體/光電探測器。

　● 有機光傳感器 （OPD， Organic Photodiode）。

　● 鈣鈦礦光傳感器 （PPD， Perovskite Photodiode）。

　● 量子點光傳感器（QDPD， Quantum Dots Photodiode）。

　● 新型材料光傳感器。

實證

　● NEP/D*：

PD-QE可直接針對器進(jìn)進(jìn)行頻率雜訊的測量與作圖。

　● EQE 光譜：

　　PD-QE 可以進(jìn)行 EQE 光譜測試。除了標(biāo)準(zhǔn)的 300nm ~ 1100nm 波段，PD-QE 可擴展到 1800nm。圖中顯示不同波長響應(yīng)器件，在 PD-QE 系統(tǒng)下，測的 EQE 量子效率光譜。

　● 整合多種SMU控制進(jìn)行IV曲線測試：

　　PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產(chǎn)的多種 SMU，進(jìn)行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線，并進(jìn)行多圖顯示。

　● 噪聲電流頻譜圖：

　　PD-QE 憑借*進(jìn)數(shù)字訊號采集與處理技術(shù)，直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進(jìn)行測種測試！并且軟件可以進(jìn)行多種頻段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。